目的探讨使用E线检测出的双颌前突患者错的分类,并对安氏Ⅰ类双颌前突患者X线头影测量分析研究.方法对我院放射科现存的部分正畸患者头影测量片,依照片编号次序用E线测评出双颌前突患者110例,统计分类,并对其中60例（男女各30例）Ⅰ类磨牙关系者进行头影测量描片分析.结果使用E线检出的双颌前突患者中,安氏Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ类错分别占70%、27.3%、2.7%.结论头影测量显示安氏Ⅰ类双颌前突患者主要表现为以切牙唇倾、唇部组织丰满突出为主.过大的SNA、SNB不是形成患者侧貌较突的主要原因.
